Microscopia de Força Atômica
Marca BIOBASE
Origem do produto CHINA
Prazo de entrega Dentro de 7 dias
Capacidade de abastecimento Fornecimento direto da fábrica
Modelo BK-AFM1000
Introdução:
A Microscopia de Força Atômica (AFM) é uma técnica de imagem de alta resolução usada para analisar características de superfície na escala nanométrica. AFM é amplamente usada em ciência de materiais, biologia, física e nanotecnologia para estudar superfícies e filmes finos, permitindo que pesquisadores capturem mapas topográficos com precisão atômica.
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Características:
1. A sonda de varredura integrada e o estágio de amostra aumentam a capacidade antiinterferência do sistema de suspensão de mola.
2. O dispositivo de posicionamento preciso de laser e sonda torna a troca de sonda e o ajuste de ponto simples e conveniente.
3. A aproximação automática da amostra à sonda fornece uma maneira eficiente de evitar colisões do cantilever.
4. A aproximação vertical da sonda de amostra permite obter um posicionamento preciso da área de interesse.
5. A área de interesse da varredura de amostra pode ser selecionada livremente com uma mesa XY de alta precisão/amplo alcance.
6. O sistema CCD de visão superior garante observação em tempo real e posicionamento da sonda na região de amostra selecionada.
7. O design modular do sistema de controle eletrônico facilita a manutenção e melhorias contínuas.
8. O modelo compacto 2000 pode ser facilmente transportado dentro de uma mala de alumínio.
9. A caixa hermética do modelo 1000 proporciona um ambiente controlado.
Parâmetros técnicos:
Modelo | BK-AFM1000 |
Modos de trabalho | Modo de contato e modo de lapidação Modos opcionais: Fase, Fricção (LFM), Magnético (MFM), Eletrostático (EFM) |
Tamanho da amostra | Ф≤90mm, A≤20mm |
Scanners disponíveis | 10*10μm, 20*20μm, 50*50μm, 100*100μm |
Resolução de digitalização | 0,2 nm na direção XY, 0,05 nm na direção Z |
Alcance do movimento da amostra | ±6,5 mm |
Largura de pulso do motor de passo | 10±2ms |
Pontos de amostragem de imagem | 512*512 |
Ampliação Óptica 4X | Resolução óptica 2,5μm |
Taxa de varredura 0,6 Hz ~ 4,34 Hz | Ângulo de varredura 0°~360° |
Controle de digitalização | D/A de 18 bits na direção XY, D/A de 16 bits na direção Z |
Amostragem de dados | Amostragem síncrona multicanal A/D de 14 bits, A/D duplo de 16 bits |
Opinião | Feedback digital DSP |
Taxa de amostragem de feedback | 64kHz |
Interface de computador | USB 2.0 |
Sistema operacional | Windows XP/7/8/10 |
Fornecimento de energia | CA 220 V, 50/60 Hz; 110 V, 50/60 Hz (opcional) |
Tamanho do pacote | 550*550*1150mm |
Peso bruto | 65 kg |
