afm para nanotecnologia
  • Microscopia de Força Atômica

    Microscopia de Força Atômica

    Introdução: A Microscopia de Força Atômica (AFM) é uma técnica de imagem de alta resolução usada para analisar características de superfícies em escala nanométrica. A AFM é amplamente utilizada em ciência dos materiais, biologia, física e nanotecnologia para estudar superfícies e filmes finos, permitindo que pesquisadores capturem mapas topográficos com precisão atômica.

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